菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd

• 更新時(shí)間：2021-02-23
• 瀏覽次數(shù)：1743

菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率，從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測(cè)下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測(cè)量。

訂購(gòu)留言

分享到：

菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd

?

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率，從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測(cè)下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測(cè)量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時(shí)可測(cè)元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測(cè)量空氣中的磷或鋁。為了使每次測(cè)量都能在*佳激勵(lì)條件下進(jìn)行，XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。

        XDV-SDD測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測(cè)試或鍍層厚度和元素分布的測(cè)量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺(tái)完成。操作很人性化，測(cè)量門開(kāi)啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。測(cè)量位置的準(zhǔn)確設(shè)定可以很方便地通過(guò)高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成，攝像頭可以在操作時(shí)準(zhǔn)確顯示測(cè)量位置。激光點(diǎn)作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設(shè)計(jì)使得XDV-SDD是研發(fā)、過(guò)程控制和實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。同時(shí)基于其健壯設(shè)計(jì)和用戶友好，它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*不可少的設(shè)備。

特征：

• ?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
• ?*高工作條件： 50 kV, 50W
• ?X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
• ?準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到3mm
• ?基本濾片：6個(gè)，可自動(dòng)切換
• ?帶彈出功能的可編程XY平臺(tái)
• ?視頻攝像頭可用來(lái)實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置，十字線上有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度標(biāo)設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

• 測(cè)量超薄鍍層，例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
• 痕量分析，例如按照RoHS，玩具和包材指
• 令檢測(cè)有害物質(zhì)
• 高精度黃金和貴金屬分析
• 光伏行業(yè)
• 測(cè)量NiP層的厚度和成分

應(yīng)用實(shí)例 :

法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測(cè)是否符合這些限制成為可能。例如，測(cè)量檢出限僅僅幾個(gè)ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。

菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd 篤摯儀器原裝代理，歡迎選購(gòu)！